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M. Yan、P. Luo、K. Iwakuni、G. Millot 和 T. Hänsch
我们展示了一种基于差频产生的双梳光谱技术,该技术利用电光调制器产生频率捷变的近红外频率梳。这些频率梳具有极其平坦的强度分布,其位置和线间距可通过简单的旋钮调节自由选择。我们在3微米波段记录了多普勒极限吸收光谱,并在毫秒内分辨出梳状谱线。我们获得了精确的分子谱线参数。我们的技术有望用于快速、灵敏的时间分辨研究,例如痕量气体的探测。.
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